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EMC電磁兼容設計中半屏蔽場地的基本原理是如何的

電子產品EMC完善的設計依賴于測試現(xiàn)場、測試設備、診斷設備,EMC輔助工具的設計,EMC工程師的工程經驗,其中測試場地和設備是固定資產投資的關鍵。目前,大多數(shù)企業(yè)的產品研發(fā)EMC都需要依靠第三方商業(yè)實驗室的測試能力,導致研發(fā)成本EMC測試和診斷的成本是巨大的。由于巨大的一次性投資和持續(xù)的維護成本,一些企業(yè)建立了自己的電波暗室來控制測試成本,這也降低了他們的財務優(yōu)勢。通過對基本標準測試原理的分析和研究,隊解決了基于開放場原理的半屏蔽測試場地EMC測試資源的預測具有一定的參考意義。

標準認證級EMC基本標準要求測試場地的分類和性能CISPR16-1-4定義,其中OATS(openareatestsite)10米開放場地是標準定義的標準場地,取代場地(alternativetestsites)包括氣候屏蔽的開闊場和帶吸波材料的屏蔽室(Absorber-linedshieldedroom),半電波暗室SAC(Semi-anechoicchamber)是大多數(shù)產品標準引用的最常見的暗室。

輻射發(fā)射試驗的基本原理是利用接收天線測量受試設備的直接發(fā)射和地面反射的最大值。因此,開放場是自然最標準的試驗場,半電波暗室利用吸波材料吸收五個表面的輻射來模擬開放場。測試距離、邊界、天線高度、NSA(Normalizedsiteattenuation)標準中規(guī)定了歸一化場地衰減等相關指標。


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圖1.輻射測試原理


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圖2.標準測試場地距離和邊界定義


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圖3.帶雨水遮蔽的開闊場


開放式場地是電磁兼容性早期發(fā)展階段性能優(yōu)異、成本低的最佳測試場地。然而,隨著電子設備的廣泛應用,越來越難找到滿足背景發(fā)射電平限值以下的6dB即30dBuV/m建造認證測試開放場地,昂貴的半電波暗室成為主流方案。作者在預測試的半屏蔽場地EMC在R&D活動實踐中,逐步設計、開發(fā)和完善了一種非標準測試場地。與開放式場地和半電波暗室相比,它在方便性、可靠性、準確性和成本方面具有獨特的優(yōu)勢,在近10年的工程應用中發(fā)揮了巨大的作用。這里簡要說明一下基本原理和使用方法,供大家參考。


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圖4.半屏蔽場地測試輻射測試示意圖


半屏蔽場預測原理參考標準10米開放場,但與標準場地有下列異同:

1.地板金屬板設計與開闊場相同,符合天線接收直接發(fā)射和地面反射的要求;

2.與開闊場輻射發(fā)射限值相比,半屏蔽場需要根據(jù)測試距離反比計算轉換限值,即3m測試距離限值比10m限值提高10dB,2m測試距離限值比10m限值提高14dB,1m測試距離限值比10米高20米dB;

3.與開放場地相比,半屏蔽場地增加了兩側垂直金屬墻,在一定程度上阻擋了天線主瓣空間環(huán)境中的噪聲源,保持了射頻空間的開放性,不會導致半電波暗室的腔諧振;

4.與開放場地的組合天線相比,半屏蔽場地使用雙錐和對數(shù)天線更加緊湊靈活;

5.與開闊場相比,只測試EUT半屏蔽場地的直接發(fā)射和地面反射增加了兩個垂直墻反射EUT從而增加天線接收的發(fā)射EUT信號提高信噪比,確保測試結果不低于標準開放場測試結果;

6.與開放場地的低不確定性相比,半屏蔽場地300MHz以下6-10dB在實踐中,裕量更安全。

7.與開闊場10米的測試距離相比,半屏蔽場的測試距離降低到3米或1米,以提高信噪比和限值;

8.與開闊場相比,背景噪音300dBuV/m半屏蔽場地背景噪聲要求3米40米dBuV/m或1米距離50dBuV/m;

9.接收天線放置在與三個面交角45度的延長線上,以確保接收三個面的反射和EUT直射;

 

從以上比較可以看出,半屏蔽場地借鑒了標準開放場地的原理,通過增加反射和減小測試距離EUT信號從環(huán)境背景噪聲中突出,輻射信號的測量在沒有屏蔽和吸波設計的情況下實現(xiàn)。它是一種基于標準的實際擴展,而不是無源的水。半屏蔽場地不屬于開放場地,不能用于標準認證測試,只能用于EMC研發(fā)工程實踐中的預測試依賴于經驗豐富的場地預測試EMC工程師的設備操作、參數(shù)設置、驗證和校準。然而,半屏蔽場地寬松的環(huán)境噪聲電平要求、靈活的場地設計和極低的成本自然適合大多數(shù)企業(yè)的內部建設。依靠豐富的經驗EMC在工程實踐中,展可以在工程實踐中盡快找到EMC問題在實踐中很有意義。

 

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圖5.PCB板級EMC診斷布置


半屏蔽場地的應用不僅可以通過轉換限值和系數(shù)進行輻射預測試,還可以擴展到子系統(tǒng)/PCB板級預測試驗診斷整改現(xiàn)場——利用天線測試遠場電場,近場探頭測量近場,電流探頭測量電纜發(fā)射,顯示器放大頻譜曲線,便于比較觀察。如上圖所示,硬件工程師PCB同時,在遠場1米處進行電場測試和近場探頭探測。通過兩者的直觀比較,可以在設計初期準確掌握初級研發(fā)樣品EMC直接評估和優(yōu)化改進設計,有效降低溝通成本EMC檢查工作量。

半屏蔽場地的應用不依賴于昂貴的接收器和自動化測試軟件。使用頻譜儀可以完成輻射發(fā)射的預測試和診斷,因此預算成本投資很小,但對EMC工程師的能力和經驗要求很高。

配備頻譜儀、天線、傳導阻抗網(wǎng)絡(用于傳導標準測試)、電流探頭(用于電纜EMI診斷)、電壓探頭(用于射頻電壓測試、頻譜測試)、近場探頭(用于EMI插損夾具(用于探頭校準和插損試驗),ESD槍(用于ESD傳導抗擾度測試系統(tǒng)(用于傳導抗擾度測試)。

SURGE/EFT用于浪涌和脈沖群標準測試的組合波發(fā)生器和耦合網(wǎng)絡EMC測試診斷能力,特別是標準測試暗室所不具備的分析診斷能力。實際上,場地在EMC在預測試驗和診斷分析中都取得了良好的應用效果,在此推薦給大家。



相關關鍵詞: EMC
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